El implante de un desfibrilador automático (DAI) es un procedimiento habitual en la práctica clínica actual que disminuye de manera evidente la mortalidad de causa arrítmica y de manera moderada la mortalidad por cualquier causa en ciertos subgrupos de pacientes. No obstante, lleva implícito una serie de complicaciones, entre las que se encuentran los fallos de alguno de los componentes del dispositivo. Las casas fabricantes, en su objetivo de disminuir las complicaciones, han intentado disminuir progresivamente el tamaño de generadores y electrodos, lo cual, paradójicamente, se ha asociado a un aumento en la tasa de fallo de estos elementos. El electrodo de desfibrilación Sprint Fidelis® (SF) (Medtronic™), de un calibre de 6.6F, lanzado al mercado en el 2004, fue retirado a finales de 2007, tras 268000 implantes en todo el mundo, debido a un riesgo de disfunción mayor de lo esperado. Hasta ahora, los datos disponibles sobre supervivencia libre de disfunción de estos electrodos están extraídos de series monocéntricas o pertenecientes a la propia casa comercial. El presente trabajo describe la experiencia en nueve centros españoles pertenecientes a 6 Comunidades Autónomas.
Se incluyó a todos los pacientes portadores de algún SF y se recogieron datos demográficos, del implante, del electrodo y del seguimiento. En total fueron 378 electrodos en 376 pacientes: 86% varones, edad 65±14 años, 60% con cardiopatía isquémica, FEVI 33%±14%, 75% de implantes por vena subclavia izquierda. Tras un seguimiento mediano de 33 meses (rango, 24-41) se documentaron 16 disfunciones de electrodo, con una supervivencia libre de disfunción del 96% y 93% a 3 y 4 años, respectivamente, siendo el fallo más frecuente la disfunción del sistema de sensado/estimulación (S/E). En el 70% de disfunciones del sistema S/E, la presentación clínica fueron las descargas inapropiadas, sin que las alertas tradicionales por aumento de impedancia fueran eficaces en la prevención de estas descargas. Una mejor FEVI fue el único factor que se asoció con una mayor probabilidad de fractura del electrodo. Al hacer el análisis agrupado por centros se vio que los tres centros con mayor número de implantes están entre los cuatro con menor tasa de disfunción y que el 56% de los fallos se concentran en los cuatro centros con menor volumen de implantes.
Los autores concluyen que en esta serie multicéntrica, la supervivencia estimada a 3 años resultó mayor que en series previas (en torno a 12% a 3 años) y más próxima a los datos aportados por Medtronic™ (96% a 3 años), siendo la FEVI y el centro implantador variables asociadas a la presencia de disfunción. Un aspecto importante, comentado por los autores, es que el riesgo de disfunción del SF parece aumentar con el paso del tiempo; de hecho, en su serie, con mejores resultados que otras previas a 3 años, se observa un descenso llamativo de la supervivencia libre de fallo a partir de ese momento (83% a 5 años) y conviene recordar que éste es, más o menos, el tiempo de seguimiento de los electrodos SF todavía implantados en la actualidad.

Arias MA, Domínguez-Pérez L, Toquero J, Jiménez-Candil J, Olagüe J, Díaz-Infante E, Tercedor L, Valverde I, Castro J, García-Fernández FJ, Rodríguez-Padial L. Electrodo de desfibrilación Sprint Fidelis: experiencia de nueve centros en España. Rev Esp Cardiol 2011;64:312–318. [Pub Med][Texto completo]

Autor: Ignacio Mosquera

Ignacio Mosquera. Experiencia con los electrodos sprint fidelis® en España

• < Previo
• Siguiente >