El recambio de generador de DAI acelera el deterioro de los electrodos Sprint Fidelis®

El electrodo de desfibrilación Sprint Fidelis® (SF) (Medtronic™) salió al mercado en 2004 y aportaba como novedad un menor diámetro que los electrodos previos. En 2007, tras más de 250000 unidades implantadas en todo el mundo, se suspendió su distribución por riesgo elevado de disfunción (generalmente por rotura del conductor del circuíto de sensado-estimulación). Actualmente se sabe que el riesgo de disfunción, estimado inicialmente en el 1%, es realmente mayor y está aumentando significativa y constantemente con el paso de los años. Sin embargo, el manejo de estos pacientes es controvertido, ya que la opción «lógica» de recambiar todos los SF electivamente tiene el problema de que la extracción de estos electrodos se asocia a una frecuencia de eventos adversos mayores del 1-2%. Por ello, en los últimos años se está intentando identificar aquellos factores o marcadores de riesgo de disfunción con el fin de poder predecir el riesgo individual en cada paciente y ayudar en la toma de decisión sobre si retirar ese electrodo o no. Hasta la fecha se han identificado como predictores de disfunción, entre otros, el sexo femenino, vena de implante diferente a la cefálica, disfunción previa de otro electrodo, FEVI conservada y menor experiencia del centro implantador. Los autores de este trabajo, tras observar varios casos de disfunción de SF tras recambio del generador del DAI, decidieron evaluar este aspecto.

Para ello incluyeron a todos los pacientes con implante de un SF (modelo 6949) en cualquiera de los dos hospitales de la Universidad Emory de Atlanta (USA) seguidos en esos mismos centros (479 pacientes), que tuvieron en global una tasa de disfunción a los 5 años del 14,3%. Durante el seguimiento se realizó recambio electivo del generador en 72 pacientes; en ellos se observó una tasa de disfunción en el primer año tras el recambio del generador del 20,8%, significativamente mayor que la de un grupo control de 150 pacientes portadores de un electrodo SF sin recambio de generador emparejados por antigüedad del implante (2,5%, p<0,05). Entre estos dos grupos de pacientes no había diferencias en sus características basales. Más de la mitad de las disfunciones de SF tras recambio de generador ocurrieron en los primeros 3 meses. No hubo ninguna característica basal ni relacionada con el procedimiento de recambio del generador o del estado del electrodo SF en el momento del recambio que se asociara a riesgo de disfunción tras el recambio.

Los autores concluyen que:

1) el recambio electivo de generador de DAI aumenta el riesgo de disfunción del electrodo SF

2) el recambio en sí mismo parece ser la causa de esta disfunción, ya que la mayoría de ellas ocurren en el primer trimestre post-recambio.

3) esta disfunción no es predecible y, por tanto, hay que considerar a todos los pacientes en riesgo de esta eventualidad.

Los autores postulan la posibilidad de que la manipulación de la porción proximal del electrodo durante el procedimiento de recambio del generador acelere el deterioro de electrodos con defectos previos clínicamente silentes. En base a ello, recomiendan minimizar la manipulación del electrodo durante el procedimiento, evitar la disección del mismo y aumentar la frecuencia de las revisiones en los primeros meses tras recambio de generador de DAI en pacientes portadores de un electrodo SF. Por otro lado, si estos hallazgos se confirmaran en otras series, sería un argumento más a favor de los que defienden el recambio electivo de todos los electrodos SF en el momento del recambio electivo del generador.

Referencias:

Lovelock JD, Patel A, Mengistu A, Hoskins M, El-Chami M, Lloyd MS, Leon A, DeLurgio D, Langberg JJ. Generator Exchange is associated with an increased rate of Sprint Fidelis lead failure. Heart Rhythm (2012), doi:10.1016/j.hrthm.2012.06.009  [Pub Med] [Texto Completo]

Autor: Ignacio Mosquera

Ignacio Mosquera. El recambio de generador de DAI acelera el deterioro de los electrodos Sprint Fidelis®